JIS C 2570-1:2006
直熱型負温度係数サーミスタ パート 1: 一般仕様
- 規格番号
- JIS C 2570-1:2006
- 制定年
- 2006
- 出版団体
- Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
- 状態
- に置き換えられる
- JIS C 2570-1:2015
- 最新版
- JIS C 2570-1:2015
- 交換する
- JIS C 2570:1998
- 範囲
- この規格は，半導体特性をもつ遷移金属酸化物によって作られる直熱形NTCサーミスタの形式別通則及び個別規格で使用する用語及び試験方法について規定する。備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき， IDT(一致している)，MOD（修正している），NEQ(同等でない)とする。
JIS C 2570-1:2006 規範的参照
- JIS C 0025:1988 環境試験の基本手順 第 2 部：試験 試験 N：温度変化試験
- JIS C 0617 簡略化された図の図記号 パート 9: 電気通信: スイッチおよび周辺機器*， 2011-01-20 更新するには
- JIS C 5062:1997 抵抗器とコンデンサーのマーキングコード
- JIS C 60068-1:1993 環境試験 - パート 1: 一般原則とガイダンス
- JIS C 6484:1997 プリント基板銅張積層板、ガラスクロス基板、エポキシ樹脂
JIS C 2570-1:2006 発売履歴
- 2015 JIS C 2570-1:2015 直熱型負温度係数サーミスタ パート 1: 一般仕様
- 2006 JIS C 2570-1:2006 直熱型負温度係数サーミスタ パート 1: 一般仕様
- 1998 JIS C 2570:1998 直熱式負温度係数サーミスタ
- 1989 JIS C 2570:1989 直熱式負温度係数サーミスタの一般規則
