この規格は，温度変化又は温度変化の繰返しが部品，機器又はその他の製品(以下,供試品という。)に与える影響を確かめるための試験方法について規定する。温度変化又は温度変化の繰返しの影響は，次の事項によって決まる。(1)低温及び高温での試験温度(2)供試品が低温及び高温に維持されている時間 (3)低温と高温との間の温度変化の割合(4)試験サィクル数(5)供試品の内部又は外部への熱伝達の量この試験は，供試品を単に低温又は高温だけに放置することによる影響を確かめるためのものではない.したがって，それらの影響を確かめるためには，低温試験JIS C 0020[環境試験方法(電気?電子)低温〔耐寒性)試験方法]又は高温試験JIS C 0021[環境試験方法(電気?電子)高温(耐熱性)試験方法]を適用することが望ましい。