ISO 11254-2:2001
レーザーおよびレーザー関連機器による光学表面へのレーザー誘発損傷の閾値の決定パート 2: S-on-1 テスト

規格番号

ISO 11254-2:2001

制定年

2001

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

状態

撤回

最新版

ISO 11254-2:2001

範囲

ISO 11254 のこの部分では、同様のレーザー パルスが連続して照射された光学表面のレーザー誘発損傷のしきい値を決定するための試験方法が規定されています。

ISO 11254-2:2001 規範的参照

• ISO 10110-7:1996 光学コンポーネントおよび光学システムおよび光学機器の図面の準備パート 7: 表面の欠陥に対する公差
• ISO 11145:1994 光学および光学機器、レーザーおよび関連レーザー機器の用語と記号

ISO 11254-2:2001 発売履歴

• 2001 ISO 11254-2:2001 レーザーおよびレーザー関連機器による光学表面へのレーザー誘発損傷の閾値の決定パート 2: S-on-1 テスト