ISO 10110-7:1996
光学コンポーネントおよび光学システムおよび光学機器の図面の準備パート 7: 表面の欠陥に対する公差
- 規格番号
- ISO 10110-7:1996
- 制定年
- 1996
- 出版団体
- International Organization for Standardization (ISO)
- 状態
- に置き換えられる
- ISO 10110-7:2008
- 最新版
- ISO 10110-7:2017
- 範囲
- 製造および検査に使用される技術図面における光学素子およびシステムの設計および機能要件の表現を指定します。 個々の光学素子の光学面の有効開口内の表面欠陥 (傷、穴、コーティングの傷など) の許容レベルの指標を指定します。
ISO 10110-7:1996 発売履歴
- 2017 ISO 10110-7:2017 光学および光学機器 光学コンポーネントおよびシステムの図面の作成 パート 7: 表面欠陥の許容値
- 2008 ISO 10110-7:2008 光学およびフォトニクス 光学部品および装置の図面の準備 パート 7: 表面欠陥の許容値
- 1996 ISO 10110-7:1996 光学コンポーネントおよび光学システムおよび光学機器の図面の準備パート 7: 表面の欠陥に対する公差
