SAE J1113/24-2000
磁場放射干渉に対する耐性 10kHz ～ 200MHz のクロフォード TEM セルおよび 10kHz ～ 5GHz の広帯域 TEM セル

規格番号

SAE J1113/24-2000

制定年

2000

出版団体

Society of Automotive Engineers (SAE)

状態

撤回

に置き換えられる

SAE J1113/24-2006

最新版

SAE J1113/24-2010

範囲

SAE J1113 のこの部分では、乗用車、商用車、および同様の用途の電子部品 (DUT) の電磁耐性をテストするための TEM セルのテスト方法と手順を規定しています。 この文書では、一定断面 TEM セル (クロフォード TEM) とフレア断面 TEM セル (広帯域 TEM) を使用する方法について説明しています。 SAE J1113 のこの部分で考慮される電磁妨害は、連続的な狭帯域電磁界に限定されます。 TEM セルは電場と磁場の両方を同時に生成します。 このテストは、高さがセプタムの高さの 1/3 未満の DUT に直接適用できます。 ある程度大きなモジュールは、条件を適用してテストできます。 クロフォード TEM および広帯域 TEM セルは、テスト設定がこの規格の他の規定に準拠している場合、セル内の電界均一性を実証することなく、高さ 1/3 条件内のテストに使用できます。 このテストは次の 2 つの目的に使用できます。 DUT とワイヤリング ハーネスへの主要なフィールド結合による DUT のイミュニティをテストします。 b. DUT への主要なフィールド結合による DUT のイミュニティのテスト。 この文書で定義されているメソッドには、ISO 11452-3 との大きな違いがいくつかあります。 国際標準から逸脱する必要性については慎重な検討が行われています。 主な違いは、DUT からのリード線を TEM セルの外に引き出す方法と、広帯域 TEM セルの搭載です。 完成車のイミュニティ測定は、通常、自動車メーカーのみが行うことができます。 その理由としては、例えば、プロトタイプや多数の異なる車両モデルの機密性を保つため、車両サイズのアブソーバーで裏打ちされたチャンバーのコストが高いことが挙げられます。 したがって、研究、開発、および品質管理には、部品メーカーが実験室測定方法を適用する必要があります。

SAE J1113/24-2000 発売履歴

• 2010 SAE J1113/24-2010 放射電磁界に対する耐久性: 10 kHz ～ 200 MHz のクロフォード TEM セルおよび 10 kHz ～ 5 GHz の広帯域 TEM セル
• 2006 SAE J1113/24-2006 磁界放射干渉に強い 10kHz ～ 200MHz のクロフォード TEM バッテリーおよび 10kHz ～ 5GHz の広帯域 TEM バッテリー
• 2000 SAE J1113/24-2000 磁場放射干渉に対する耐性 10kHz ～ 200MHz のクロフォード TEM セルおよび 10kHz ～ 5GHz の広帯域 TEM セル

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