JIS K 7136:2000
プラスチック、透明材料のヘイズの測定
- 規格番号
- JIS K 7136:2000
- 制定年
- 2000
- 出版団体
- Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
- 状態
- に置き換えられる
- JIS K 7136 ERRATUM 1:2010
- 最新版
- JIS K 7136 ERRATUM 1:2010
- 範囲
- この規格は，透明で基本的には無色のプラスチックについて，光線の広角散乱に関する特定の光学的性質であるへーズの求め方について規定する。この試験方法は，この方法によって測定したへーズ値40%以下の材料に適用できる。
JIS K 7136:2000 発売履歴
- 2010 JIS K 7136 ERRATUM 1:2010 正誤表
- 2000 JIS K 7136:2000 プラスチック、透明材料のヘイズの測定
- 1981 JIS K 7105:1981 プラスチックの光学特性の試験方法
