EN 60749-15:2003
半導体デバイスの機械的及び気候的試験方法 第15部:スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性
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EN 60749-15:2003
規格番号
EN 60749-15:2003
制定年
2003
出版団体
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization
状態
入れ替わる
に置き換えられる
EN 60749-15:2010
最新版
EN 60749-15:2010
EN 60749-15:2003 発売履歴
2010
EN 60749-15:2010
半導体デバイスの機械的及び気候的試験方法 第15部:スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性
2003
EN 60749-15:2003
半導体デバイスの機械的及び気候的試験方法 第15部:スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性
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