GB 15651.4-2017
半導体デバイス ディスクリートデバイス 第5-4部：光電子デバイス 半導体レーザー (英語版)
- 規格番号
- GB 15651.4-2017
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2017
- 出版団体
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- 最新版
- GB 15651.4-2017
GB 15651.4-2017 規範的参照
- IEC 60747-1 半導体デバイス パート 1: 一般
- IEC 62007-1 変更 1. 光ファイバ システム アプリケーション用の半導体オプトエレクトロニクス デバイス パート 1: 基本的な定格と特性の仕様テンプレート*， 2022-09-22 更新するには
- IEC 62007-2 光ファイバーシステム用途向けの半導体光電子デバイス パート 2: 測定方法
- ISO 1 幾何製品仕様 (GPS) 幾何学的および寸法特性を仕様化するための標準基準温度*， 2022-06-14 更新するには
- ISO 11146-1 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザー光線幅、発散角、光線拡散率の試験方法 第 1 部：無乱視光線および簡易乱視光線*， 2021-06-30 更新するには
- ISO 11146-2 レーザーおよびレーザー関連機器のレーザービーム幅発散角およびビーム伝播比の試験方法 第2部：一般的な非点収差ビーム*， 2021-07-02 更新するには
- ISO 11554 光学およびフォトニクス - レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザー光の出力エネルギーおよび時間特性の試験方法*， 2017-08-07 更新するには
- ISO 11670 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザービームパラメータの試験方法 ビーム位置の安定性 技術訂正事項 1
- ISO 12005 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザービームパラメータの試験方法 偏光*， 2022-05-31 更新するには
- ISO 13694 光学およびフォトニクス - レーザーおよびレーザー関連機器 - レーザー光のパワー（エネルギー）密度分布の試験方法*， 2018-11-02 更新するには
- ISO 13695 光学およびフォトニクス レーザーおよび関連機器 レーザースペクトル特性の試験方法
- ISO 17526 光学および光学機器 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザーの耐用年数
GB 15651.4-2017 発売履歴
- 2017 GB 15651.4-2017 半導体デバイス ディスクリートデバイス 第5-4部：光電子デバイス 半導体レーザー
