SAE J1752/1-2006
集積回路の電磁適合性測定手順 - 集積回路の EMC 測定手順 - 一般原則と定義
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SAE J1752/1-2006
規格番号
SAE J1752/1-2006
制定年
2006
出版団体
Society of Automotive Engineers (SAE)
状態
入れ替わる
に置き換えられる
SAE J1752/1-2016
最新版
SAE J1752/1-2021
範囲
この SAE 推奨実践では、SAE J1752 シリーズの文書で定義されているエミッションおよびイミュニティの測定手順のサポート情報を提供します。
SAE J1752/1-2006 発売履歴
2021
SAE J1752/1-2021
集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の概要と定義
2016
SAE J1752/1-2016
集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の概要と定義
2006
SAE J1752/1-2006
集積回路の電磁適合性測定手順 - 集積回路の EMC 測定手順 - 一般原則と定義
1997
SAE J1752/1-1997
集積回路の電磁適合性の測定手順 - 集積回路の EMC の測定手順 - 一般原理と定義
SAE J1752/1-2006 - すべての部品
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SAE J1752-2-2016 集積回路の放射エミッション測定 表面走査法(ループプローブ法) 10MHz~3GHz
SAE J1752-3-2017 集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の一般原則と定義
SAE J1752/1-2021 集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の概要と定義
SAE J1752/2-2016 集積回路からの放射妨害波の測定 表面走査法(ループプローブ法) 10 MHz ~ 3 GHz
SAE J1752/3-2017 集積回路からの放射の測定 EM/広帯域 TEM (GTEM) セル法、TEM セル (150 kHz ~ 1 GHz)、広帯域 TEM セル (150 kHz ~ 8 GHz)
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