ASTM D2149-13(2021)
周波数 10 MHz、温度 500°C における固体誘電体の誘電率と誘電正接の標準試験方法

規格番号

ASTM D2149-13(2021)

制定年

2021

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

最新版

ASTM D2149-13(2021)

範囲

1.1 この試験方法では、-80 ～ 500 °C の温度範囲にわたる 50 Hz ～ 10 MHz の固体誘電体の比誘電率 (誘電率) と誘電正接の測定を対象としています。 2,3 以下の 2 つの手順が含まれています。 1.1.1 手順 A - マイクロメーター電極の使用。 1.1.2 手順 B - 高精度コンデンサの使用。 注 1—一般的な使用法では、「相対的」という言葉は頻繁に省略されます。 1.2 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全、健康、および環境慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断するのは、この規格のユーザーの責任です。 1.3 この国際規格は、世界貿易機関貿易技術障壁 (TBT) 委員会によって発行された国際規格、ガイドおよび推奨事項の開発のための原則に関する決定で確立された、国際的に認められた標準化原則に従って開発されました。

ASTM D2149-13(2021) 規範的参照

• ASTM D150 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
• ASTM D1711 電気絶縁に関する標準用語
• ASTM E197 室温以上および室温以下でテストするためのエンクロージャおよびメンテナンス装置の仕様

ASTM D2149-13(2021) 発売履歴

• 2021 ASTM D2149-13(2021) 周波数 10 MHz、温度 500°C における固体誘電体の誘電率と誘電正接の標準試験方法
• 2013 ASTM D2149-13 固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）および誘電正接の標準試験方法
• 1997 ASTM D2149-97(2004) 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
• 1997 ASTM D2149-97 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法