ASTM D2149-13
固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）および誘電正接の標準試験方法
- 規格番号
- ASTM D2149-13
- 制定年
- 2013
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
- ASTM D2149-13(2021)
- 最新版
- ASTM D2149-13(2021)
- 範囲
- 4.1&# 誘電率と誘電正接は、化学組成、不純物、均一性の変化に影響されます。 したがって、これらの特性の測定は、品質管理や、湿気、熱、放射線などの環境の影響を判断するのに役立ちます。 1.1 この試験方法は、8201;80～500&#の温度範囲にわたる50 Hz～10 MHzの固体誘電体の比誘電率(誘電率)と誘電正接の測定を対象としています。 °C.2、3 次の 2 つの手順が含まれています: 1.1.1 手順 A—マイクロメーター電極を使用します。 1.1.2&# 手順 B&#—高精度コンデンサの使用。 注 1&#—一般的に「相対的」という言葉が使用されます。 頻繁に落とされる。 1.2&# この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合でも、それに対処することを目的としたものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。
ASTM D2149-13 規範的参照
- ASTM D150 固体電気絶縁材料（定誘電体）の交流損失特性および比誘電率の標準試験方法
- ASTM D1711 電気絶縁に関する標準用語
- ASTM E197 室温以上および室温以下でテストするためのエンクロージャおよびメンテナンス装置の仕様
ASTM D2149-13 発売履歴
- 2021 ASTM D2149-13(2021) 周波数 10 MHz、温度 500°C における固体誘電体の誘電率と誘電正接の標準試験方法
- 2013 ASTM D2149-13 固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）および誘電正接の標準試験方法
- 1997 ASTM D2149-97(2004) 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
- 1997 ASTM D2149-97 周波数10MHz、温度500℃における固体セラミック誘電体の誘電率（誘電率）と損失係数の試験方法
