UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命

規格番号

UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011

制定年

2011

出版団体

AENOR

最新版

UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011

UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 発売履歴

• 2011 UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命
• 2005 UNE-EN 60749-23:2005 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命