UNE-EN 60749-23:2005
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命

規格番号

UNE-EN 60749-23:2005

制定年

2005

出版団体

AENOR

状態

入れ替わる 2011-12

に置き換えられる

UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011

最新版

UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011

UNE-EN 60749-23:2005 発売履歴

• 2011 UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命
• 2005 UNE-EN 60749-23:2005 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 第 23 部: 高温動作寿命