IEC 60168:1979
公称電圧が 1,000 V を超えるシステム向けのセラミック材料またはガラスの屋内および屋外ポスト絶縁体のテスト

規格番号
IEC 60168:1979
制定年
1970
出版団体
SCC
状態
に置き換えられる
IEC 60168:1979/AMD1:1982
最新版
IEC 60168:2001
交換する
29.080.10
範囲
公称電圧が 1,000 V を超え、周波数が 100 Hz 以下の交流で動作する電気設備または機器の屋内および屋外サービス用のセラミック材料またはガラス製のポストがいしおよびポストがいしユニットに適用されます。 注:  ——DC システムで使用する絶縁体の暫定規格とみなされます。 IEC 438 を参照してください。 - 中空絶縁体を検討する場合は、IEC 233 を参照してください。 - 有機材料の屋内ポスト絶縁体の試験については、将来の出版物で取り上げられる予定です。 公称電圧が 1,000 V を超え、最大 300 kV までのシステム用の有機材料の屋内ポスト絶縁体のテスト。 - 人工汚染および無線干渉試験については、IEC 437 および 507 を参照してください。 - 絶縁体の特性の数値および特定の動作条件における絶縁体の選択については、IEC 273 を参照してください。

IEC 60168:1979 発売履歴

  • 2001 IEC 60168:2001 公称電圧が 1000V を超えるシステム向けのセラミック材料またはガラスの屋内および屋外ポスト絶縁体のテスト
  • 2001 IEC 60168:1994/AMD2:2000 公称電圧が 1000V を超えるシステム向けのセラミック材料またはガラス製の屋内および屋外の柱状絶縁体のテスト
  • 1997 IEC 60168:1994/AMD1:1997 公称電圧が 1000V を超えるシステムの屋内および屋外のセラミックまたはガラス柱絶縁体に対するテストの変更 1
  • 1994 IEC 60168:1994 公称電圧が 1000V を超えるシステムの屋内および屋外のセラミックまたはガラス柱絶縁体のテスト
  • 1988 IEC 60168:1988 公称電圧が 1000V を超えるシステムのユーザーを対象とした、内部および外部の磁器またはガラス柱絶縁体のテスト
  • 1970 IEC 60168:1979/AMD1:1982 修正 1 - 公称電圧が 1,000 V を超えるシステムのセラミック材料またはガラスの屋内および屋外ポスト絶縁体のテスト
  • 1970 IEC 60168:1979 公称電圧が 1,000 V を超えるシステム向けのセラミック材料またはガラスの屋内および屋外ポスト絶縁体のテスト
  • 1970 IEC 60168:1964 公称電圧が 1000 V を超えるシステムの屋内および屋外のポスト絶縁体のテスト



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