IEC 60168:1994/AMD2:2000
公称電圧が 1000V を超えるシステム向けのセラミック材料またはガラス製の屋内および屋外の柱状絶縁体のテスト

規格番号

IEC 60168:1994/AMD2:2000

制定年

2001

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEC 60168:2001

最新版

IEC 60168:2001

IEC 60168:1994/AMD2:2000 発売履歴

• 2001 IEC 60168:2001 公称電圧が 1000V を超えるシステム向けのセラミック材料またはガラスの屋内および屋外ポスト絶縁体のテスト
• 2001 IEC 60168:1994/AMD2:2000 公称電圧が 1000V を超えるシステム向けのセラミック材料またはガラス製の屋内および屋外の柱状絶縁体のテスト
• 1997 IEC 60168:1994/AMD1:1997 公称電圧が 1000V を超えるシステムの屋内および屋外のセラミックまたはガラス柱絶縁体に対するテストの変更 1
• 1994 IEC 60168:1994 公称電圧が 1000V を超えるシステムの屋内および屋外のセラミックまたはガラス柱絶縁体のテスト
• 1988 IEC 60168:1988 公称電圧が 1000V を超えるシステムのユーザーを対象とした、内部および外部の磁器またはガラス柱絶縁体のテスト