ASTM F637-85(1994)e1
周囲 19 mm および 35 mm のテスト可能なテープキャリア接合半導体デバイスの物理的特性フォーマットおよびテスト方法の標準仕様

規格番号

ASTM F637-85(1994)e1

制定年

2001

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ASTM F637-85(2001)

最新版

ASTM F637-85(2001)

ASTM F637-85(1994)e1 発売履歴

• 1970 ASTM F637-85(2001)
• 2001 ASTM F637-85(1994)e1 周囲 19 mm および 35 mm のテスト可能なテープキャリア接合半導体デバイスの物理的特性フォーマットおよびテスト方法の標準仕様