ASTM F637-85(1994)e1
周囲 19 mm および 35 mm のテスト可能なテープキャリア接合半導体デバイスの物理的特性フォーマットおよびテスト方法の標準仕様

規格番号
ASTM F637-85(1994)e1
制定年
2001
出版団体
American Society for Testing and Materials (ASTM)
状態
に置き換えられる
ASTM F637-85(2001)
最新版
ASTM F637-85(2001)

ASTM F637-85(1994)e1 発売履歴

  • 1970 ASTM F637-85(2001)
  • 2001 ASTM F637-85(1994)e1 周囲 19 mm および 35 mm のテスト可能なテープキャリア接合半導体デバイスの物理的特性フォーマットおよびテスト方法の標準仕様



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