ASTM B764-04(2021)
多層ニッケルめっきにおける単層膜厚と電極電位を同時に測定する標準試験方法(ステップ試験)
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ASTM B764-04(2021)
規格番号
ASTM B764-04(2021)
制定年
2021
出版団体
American Society for Testing and Materials (ASTM)
最新版
ASTM B764-04(2021)
範囲
1.1 この試験方法は、多層ニッケル電着物の個々の層の厚さと、一定の電流密度で陽極剥離されている間の個々の層間の電位差を厳密に推定します。 2,3 1.2 この試験方法は、多層電気めっきニッケル以外の析出システムは対象としていません。 預金。 1.3 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全、健康、および環境慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断するのは、この規格のユーザーの責任です。 1.4 この国際規格は、世界貿易機関貿易技術障壁 (TBT) 委員会によって発行された国際規格、ガイドおよび推奨事項の開発のための原則に関する決定で確立された、国際的に認められた標準化原則に従って開発されました。
ASTM B764-04(2021) 規範的参照
ASTM B456
銅+ニッケル+クロム、ニッケル+クロム電解析出皮膜の標準仕様
ASTM B504
電量法による金属皮膜の厚さを測定する標準的な試験方法
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2023-05-01 更新するには
ASTM D1193
試薬水 (連邦試験法 No. 7916)
ASTM B764-04(2021) 発売履歴
2021
ASTM B764-04(2021)
多層ニッケルめっきにおける単層膜厚と電極電位を同時に測定する標準試験方法(ステップ試験)
2004
ASTM B764-04(2014)
多層ニッケルめっきにおける単層の厚さと電極電位の同時測定 40; STEP 試験の標準試験方法 41
2004
ASTM B764-04(2009)
多層ニッケルめっきにおける単層の膜厚と電気化学的電位の同時測定方法(STEP試験)
2004
ASTM B764-04
多層ニッケルめっきにおける単層の膜厚と電極電位を同時に測定するための標準試験方法(STEP試験)
1994
ASTM B764-94(2003)
多層ニッケルコーティングの単層の厚さと電気化学的電位を同時に測定するための標準試験方法 (ステップ試験)
1994
ASTM B764-94
多層ニッケルコーティングの単層の厚さと電気化学的電位を同時に測定するための標準試験方法 (ステップ試験)
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