DIN EN 62047-21 E:2012-11
半導体デバイス - 微小電気機械デバイス - 第 21 部: 薄膜 MEMS 材料のポアソン比の試験方法
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DIN EN 62047-21 E:2012-11
規格番号
DIN EN 62047-21 E:2012-11
制定年
1970
出版団体
/
状態
入れ替わる
に置き換えられる
DIN EN 62047-21:2015
最新版
DIN EN 62047-21:2015-04
DIN EN 62047-21 E:2012-11 発売履歴
2015
DIN EN 62047-21:2015-04
半導体デバイス - 微小電気機械デバイス - パート 21: 薄膜 MEMS 材料のポアソン比の試験方法 (IEC 62047-21:2014)
2015
DIN EN 62047-21:2015
半導体デバイス - 微小電気機械デバイス - パート 21: 薄膜 MEMS 材料のポアソン比の試験方法 (IEC 62047-21:2014)、ドイツ語版 EN 62047-21:2014
1970
DIN EN 62047-21 E:2012-11
半導体デバイス - 微小電気機械デバイス - 第 21 部: 薄膜 MEMS 材料のポアソン比の試験方法
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