ISO/IEC 10373-6:2020/AMD2:2020
修正 2. 個人識別カードとセキュリティデバイス. テスト方法. パート 6: 物体への非接触近接. 調整の強化

規格番号

ISO/IEC 10373-6:2020/AMD2:2020

制定年

2020

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 2:2020

最新版

ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 1:2021

ISO/IEC 10373-6:2020/AMD2:2020 発売履歴

• 2021 ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 1:2021 強化連携改造1
• 2020 ISO/IEC 10373-6:2020/Amd 2:2020 連携を強化する
• 2020 ISO/IEC 10373-6:2020 ID カード - テスト方法 - パート 6: 近接カード
• 2018 ISO/IEC 10373-6:2016/Amd 3:2018 強化連携改造3
• 2016 ISO/IEC 10373-6:2016 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード
• 2013 ISO/IEC 10373-6:2011/Cor 1:2013 ID カード、試験方法、パート 6: 近接カード、技術訂正事項 1: R2 値範囲、PICC 送信開始および EMD レベル測定手順、技術訂正事項 1
• 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 4:2012 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード、変更 4: フレーム サイズ 512 ～ 4096 バイト、ビット レート fc/8、fc/4、fc/2
• 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 3:2012 ID カード、試験方法、パート 6: 短距離カード、修正 3: その他のパラメータ、バッチ番号、不一致の AFI と TR2 の交換
• 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 2:2012 ID カード 試験方法 パート 6: 短距離カード 修正 2: 電磁干渉試験方法
• 2012 ISO/IEC 10373-6:2011/Amd 1:2012 ID カード、テスト方法、パート 6: 近接カード、修正 1: 追加の PICC レベル
• 2011 ISO/IEC 10373-6:2011 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード
• 2010 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 7:2010 ID カード テスト方法 パート 6: 短距離カード 修正 7: 電子パスポートのテスト方法
• 2007 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 5:2007 ID カード、テスト方法、パート 6: 近接カード、修正 5: fc/64、fc/32、および fc/16 のビット レート
• 2007 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 1:2007 ID カード. テスト方法. パート 6: 近接カード. 修正 1: 近接カードのプロトコル テスト方法
• 2006 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 4:2006 ID カード. テスト方法. パート 6: 近接カード. 修正 4: PCD RF インターフェイスおよび PICC 交流電界曝露のための追加のテスト方法
• 2006 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 3:2006 ID カード テスト方法 パート 6: 短距離カード 修正 3: 短距離接続デバイスの調整されたテスト方法
• 2003 ISO/IEC 10373-6:2001/Amd 2:2003 ID カード、テスト方法、パート 6: 短距離カード、修正 2: 改良された RF テスト方法
• 2001 ISO/IEC 10373-6:2001 ID カード試験方法パート 6: 短距離カード