IEC 60384-9:1979
電子機器用固定コンデンサ - パート 9: 断面仕様: セラミック誘電体の固定コンデンサ、クラス 2 - 試験方法の選択と一般要件

規格番号

IEC 60384-9:1979

制定年

1970

出版団体

SCC

状態

入れ替わる 2005-05

に置き換えられる

IEC 60384-9:1988

最新版

IEC 60384-9:2015

交換する

1979-01-01

範囲

この出版物には、IEC 電子部品品質評価システム (IECQ) の仕様番号である QC 300700 という番号も付けられており、電子機器での使用を目的とした、高誘電率のセラミック誘電体 (誘電体クラス 2) の固定コンデンサに適用されます。 リードレスコンデンサを含むが、積層セラミックチップコンデンサを除く 好ましい定格と特性を規定し、IEC 384-1 (1982) から適切な品質評価手順、試験および測定方法を選択し、このタイプのコンデンサの一般的な性能要件を示します。 187.

IEC 60384-9:1979 発売履歴

• 2015 IEC 60384-9:2015 電子機器用固定コンデンサ パート 9: サブ仕様: クラス 2 セラミック誘電体固定コンデンサ
• 2005 IEC 60384-9:2005 電子機器用固定コンデンサ パート 9: サブ仕様: クラス 2 セラミック誘電体固定コンデンサ
• 1970 IEC 60384-9:1988/AMD1:2000 修正 1 - 電子機器で使用する固定コンデンサ - パート 9: 断面仕様: セラミック誘電体の固定コンデンサ、クラス 2
• 1988 IEC 60384-9:1988 Les Equipements Electroniques Neuvieme Partie: 仕様仲介者: Condensateurs Fixes A Dielectrique En Ceramique De Classe 2 (Edition 2.0; IECQ QC 300700; Replaces 60187: 1965; Amendment 1@ 08-2000) を利用したコンデンサーの修正
• 1970 IEC 60384-9:1979 電子機器用固定コンデンサ - パート 9: 断面仕様: セラミック誘電体の固定コンデンサ、クラス 2 - 試験方法の選択と一般要件