JIS Z 4504:1993
放射性表面汚染の評価

規格番号

JIS Z 4504:1993

制定年

1993

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

状態

撤回 2008-01

に置き換えられる

JIS Z 4504:2008

最新版

JIS Z 4504:2008

範囲

この規格は，β線(最大エネルギーが0.15 MeV以上)又は a線を放出する核種によって汚染された物品又は施設の放射能面密度を，直接測定法又は間接測定法によって測定する方法について規定する。

JIS Z 4504:1993 発売履歴

• 2008 JIS Z 4504:2008 表面汚染評価 ベータ線源（最大ベータエネルギーが 0.15 MeV を超える）およびアルファ線源
• 1993 JIS Z 4504:1993 放射性表面汚染の評価