DS/ISO 2178:1983
磁性基板上の非磁性被膜 被膜厚さの測定 磁気法

規格番号

DS/ISO 2178:1983

制定年

1983

出版団体

Danish Standards Foundation

状態

撤回

最新版

DS/ISO 2178:1983

範囲

この規格は、層厚計の使用方法を規定しています。 非磁性コーティング（釉薬やホーローのコーティングも含む）の層厚を非破壊で測定するための磁気原理磁性卑金属。 この方法は次の測定にのみ使用できます。 比較的平坦な主題。 ISO 2361 で指定された方法は、表面のニッケルコーティングに優先されるべきです。 非磁性基板。

DS/ISO 2178:1983 発売履歴

• 1983 DS/ISO 2178:1983 磁性基板上の非磁性被膜 被膜厚さの測定 磁気法