OVE EN IEC 60749-37:2020
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 37: 加速度計を使用した基板レベルの落下試験方法 (IEC 47/2651/CDV) (英語版)

規格番号

OVE EN IEC 60749-37:2020

制定年

2020

出版団体

AT-OVE/ON

最新版

OVE EN IEC 60749-37:2020

OVE EN IEC 60749-37:2020 発売履歴

• 2020 OVE EN IEC 60749-37:2020 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 37: 加速度計を使用した基板レベルの落下試験方法 (IEC 47/2651/CDV) (英語版)