ASTM C539-84(2016)
干渉法によるほうろう、釉薬磁器および白色セラミック材料の線熱膨張の標準試験方法
- 規格番号
- ASTM C539-84(2016)
- 制定年
- 1984
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
- ASTM C539-84(2021)
- 最新版
- ASTM C539-84(2021)
- 範囲
- 3.1 この試験方法は、干渉法による磁器エナメルと釉薬フリットの熱膨張を定義します。 この決定は、コーティングと基板材料の間の熱膨張の不一致によるこれらのガラスコーティングのひび割れ (ひび割れ) を回避するために重要です。 1.1 この試験方法は、1000°C (1830°C) 未満の温度で事前に溶融したフリット (エナメルと釉薬) および焼成されたセラミック白製品材料の線形熱膨張の干渉測定を対象としています。 F)。 1.2&# この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。
ASTM C539-84(2016) 規範的参照
- ASTM E289 干渉法による剛体の線形熱膨張の試験方法*， 1999-04-09 更新するには
ASTM C539-84(2016) 発売履歴
- 2021 ASTM C539-84(2021) セラミックエナメルおよびセラミック白器材料の線熱膨張の標準試験方法
- 1984 ASTM C539-84(2016) 干渉法によるほうろう、釉薬磁器および白色セラミック材料の線熱膨張の標準試験方法
- 1984 ASTM C539-84(2011) 干渉法によるホーロー、磁器、白色セラミック材料の線熱膨張測定試験方法
- 1984 ASTM C539-84(2006) 干渉法によるホーロー、釉薬磁器、白色セラミック材料の線熱膨張測定試験方法
- 1984 ASTM C539-84(2000) セラミックエナメルおよびセラミック白器材料の線熱膨張の標準試験方法
- 2000 ASTM C539-84(1996) 干渉法によるエナメル、釉薬、白色セラミック材料の線熱膨張の標準試験方法
