SJ/T 2658.5-2015
半導体赤外発光ダイオードの測定方法 第5部 直列抵抗 (英語版)

規格番号

SJ/T 2658.5-2015

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2015

出版団体

Professional Standard - Electron

最新版

SJ/T 2658.5-2015

交換する

SJ 2658.5-1986

範囲

この部では、半導体赤外発光ダイオード（以下、デバイス）の直列抵抗の測定原理図、測定手順、規定条件を規定します。 このセクションは半導体赤外線発光ダイオードに適用されます。

SJ/T 2658.5-2015 規範的参照

• SJ/T 2658.1 半導体赤外発光ダイオードの測定方法 第 1 部: 一般原理

SJ/T 2658.5-2015 発売履歴

• 2015 SJ/T 2658.5-2015 半導体赤外発光ダイオードの測定方法 第5部 直列抵抗
• 1970 SJ 2658.5-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法 順直列抵抗の試験方法

SJ/T 2658.5-2015 半導体赤外発光ダイオードの測定方法 第5部 直列抵抗 は SJ 2658.5-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法 順直列抵抗の試験方法 から変更されます。