SJ/T 11030-2015
電子デバイス用の金-銅および金-ニッケルはんだ中の不純物鉛、亜鉛、リンを測定するための ICP-AES 法 (英語版)

規格番号

SJ/T 11030-2015

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2015

出版団体

Professional Standard - Electron

最新版

SJ/T 11030-2015

交換する

SJ/T 11030-1996 SJ/T 11031-1996 SJ/T 11032-1996

範囲

この規格は、ICP-AES を使用して鉛、リン、亜鉛を測定するための試験方法を指定します。 この規格は、電子機器用の金-銅および金-ニッケルはんだ中の鉛、亜鉛、リンの測定に適用され、測定範囲（質量分率）は、鉛 0.0005% ～ 0.006%、リン 0.0002% ～ 0.002%、亜鉛です。 0.001%～0.008%。

SJ/T 11030-2015 規範的参照

• GB/T 1467 冶金製品の化学分析方法に関する規格の一般原則および一般規定
• GB/T 23942 化学試薬 - 誘導結合プラズマ原子発光分析の一般規則
• GB/T 602 化学試薬の不純物測定用標準液の調製

SJ/T 11030-2015 発売履歴

• 2015 SJ/T 11030-2015 電子デバイス用の金-銅および金-ニッケルはんだ中の不純物鉛、亜鉛、リンを測定するための ICP-AES 法
• 1970 SJ/T 11030-1996 電子機器用の金-銅および金-ニッケルはんだの分析方法 ジチゾン分光光度法による鉛の測定

SJ/T 11030-2015 電子デバイス用の金-銅および金-ニッケルはんだ中の不純物鉛、亜鉛、リンを測定するための ICP-AES 法 は SJ/T 11031-1996 電子機器に使用される金-銅および金-ニッケルはんだの分析方法 リンモリブデンブルー分光光度法によるリンの定量 から変更されます。

SJ/T 11030-2015 電子デバイス用の金-銅および金-ニッケルはんだ中の不純物鉛、亜鉛、リンを測定するための ICP-AES 法 は SJ/T 11032-1996 電子機器用の金銅および金ニッケルはんだの分析方法 原子吸光光度法による亜鉛の定量 から変更されます。