SJ/T 11011-2015
電子機器用純銀はんだ中の鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモン、リンの不純物含有量のICP-AES試験方法 (英語版)

規格番号

SJ/T 11011-2015

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2015

出版団体

Professional Standard - Electron

最新版

SJ/T 11011-2015

交換する

SJ/T 11011-1996 SJ/T 11012-1996 SJ/T 11013-1996 SJ/T 11014-1996 SJ/T 11015-1996 SJ/T 11016-1996 SJ/T 11017-1996 SJ/T 11019-1996

範囲

この規格は、ICP-AES を使用して電子デバイス用の純銀はんだ中の鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモン、リンを測定するための試験方法を規定しています。 この規格は、電子機器用の純銀はんだ中の鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモン、リンの測定に適用されます。 鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモンの試験範囲（質量分率）は0.000 5％～0.010％、リンは0.000 5％～0.003％です。

SJ/T 11011-2015 規範的参照

• GB/T 1467 冶金製品の化学分析方法に関する規格の一般原則および一般規定
• GB/T 23942 化学試薬 - 誘導結合プラズマ原子発光分析の一般規則
• GB/T 602 化学試薬の不純物測定用標準液の調製

SJ/T 11011-2015 発売履歴

• 2015 SJ/T 11011-2015 電子機器用純銀はんだ中の鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモン、リンの不純物含有量のICP-AES試験方法
• 1970 SJ/T 11011-1996 電子機器に使用される純銀はんだの分析方法 ジチゾン分光光度法による鉛の定量

SJ/T 11011-2015 電子機器用純銀はんだ中の鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモン、リンの不純物含有量のICP-AES試験方法 は SJ/T 11012-1996 電子機器用純銀はんだの分析法 - 原子吸光光度法によるマグネシウムと亜鉛の定量 から変更されます。

SJ/T 11011-2015 電子機器用純銀はんだ中の鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモン、リンの不純物含有量のICP-AES試験方法 は SJ/T 11013-1996 電子機器用純銀はんだの分析法 - 原子吸光光度法によるカドミウムの定量 から変更されます。

SJ/T 11011-2015 電子機器用純銀はんだ中の鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモン、リンの不純物含有量のICP-AES試験方法 は SJ/T 11014-1996 電子機器用純銀はんだの分析方法 マラカイトグリーン分光光度法によるアンチモンの定量 から変更されます。

SJ/T 11011-2015 電子機器用純銀はんだ中の鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモン、リンの不純物含有量のICP-AES試験方法 は SJ/T 11015-1996 電子機器用純銀はんだの分析法 フェナントロリン分光光度法による鉄の定量 から変更されます。

SJ/T 11011-2015 電子機器用純銀はんだ中の鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモン、リンの不純物含有量のICP-AES試験方法 は SJ/T 11016-1996 電子機器用純銀はんだの分析法 ストリキニーネ・ヨウ化カリウム分光光度法によるビスマスの定量 から変更されます。

SJ/T 11011-2015 電子機器用純銀はんだ中の鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモン、リンの不純物含有量のICP-AES試験方法 は SJ/T 11017-1996 電子機器用純銀はんだの分析方法 リンモリブデンブルー分光光度法によるリンの定量 から変更されます。

SJ/T 11011-2015 電子機器用純銀はんだ中の鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモン、リンの不純物含有量のICP-AES試験方法 は SJ/T 11019-1996 電子機器用純銀はんだの分析方法鉛、ビスマス、亜鉛、カドミウム、鉄、マグネシウム、アルミニウム、錫、アンチモンの化学分光測定。 から変更されます。