GB/T 20726-2015
マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法 電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計 (英語版)

規格番号

GB/T 20726-2015

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2015

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 20726-2015

交換する

GB/T 20726-2006

範囲

この規格は、半導体検出器、プリアンプ、および信号処理システムに基づく X 線エネルギー分光計 (EDS) の特性を特徴付ける最も重要な性能パラメータを指定します。 この規格は、固体イオン化の原理に基づく半導体検出器エネルギー分光計にのみ適用されます。 この規格は、走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ (EPMA) と組み合わせて使用される EDS 性能パラメータの最小要件と検証方法を指定します。 実際の分析プロセスについては、すでに ISO 22309 および ASTM E1508 で規定されていますが、この規格の範囲外です。

GB/T 20726-2015 規範的参照

• GB/T 21636-2008 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析 (EPMA) の用語

GB/T 20726-2015 発売履歴

• 2015 GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法 電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計
• 2006 GB/T 20726-2006 半導体検出器X線分光器の一般原理