ISO 20289:2018
表面化学分析 - 水の全反射蛍光X線分析

規格番号

ISO 20289:2018

制定年

2018

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

最新版

ISO 20289:2018

範囲

この文書は、全反射蛍光 X 線 (TXRF) 装置を使用して作業する技術者が、適切な実践に従って、規定の精度と精度で水サンプルの測定を実行するための化学的方法を提供します。 対象となるユーザーは、ISO/IEC 17025 にも準拠した多数のサンプルの日常分析を実行する研究所の中から特定されます。 この文書は、水 (飲料水、地表水、地下水など) に溶解している元素の含有量を決定する方法を指定します。 ）。 特定の、さらに発生する干渉を考慮して、廃水および溶出液中の元素を測定することもできます。 サンプリング、希釈、および事前濃縮の方法は、この文書には含まれていません。 本方法で測定できる元素は、装置の X 線源に応じて変化する可能性があります。 ここでは、健康、安全、または商業的な側面は考慮されていません。 動作範囲は、マトリックスと遭遇する干渉によって異なります。 飲料水および比較的汚染されていない水では、ほとんどの元素の定量限界は 0.001 mg/l から 0.01 mg/l の間にあります。 使用範囲は通常、元素と事前定義された要件に応じて、0.001 mg/l ～ 10 mg/l の濃度をカバーします。 たとえば、付録 B は、X 線源として Mo を使用し、校正用の内部標準として Ga を使用する機器を使用して実行された水の TXRF 分析方法の完全な検証を報告しています。 ほとんどの元素の定量限界はブランクの汚染の影響を受け、主に利用可能な実験室の空気処理設備、試薬の純度、実験器具の清浄度に依存します。

ISO 20289:2018 規範的参照

• ISO 14706:2014 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
• ISO 17331:2004 表面化学分析シリコンウェーハ作業標準物質の表面から元素を収集する化学的方法と全反射蛍光 X 線分光法によるそれらの定量
• ISO 3696:1987 分析研究所における水使用の仕様と試験方法
• ISO 5667-1:2006 水質、サンプリング、パート 1: サンプリング手順およびサンプリング技術の設計に関するガイドライン。
• ISO 5667-3:2012 水質、サンプリング、パート 3: 水サンプルの保存と取り扱いに関するガイドライン。
• ISO 5725-1:1994 試験方法と結果の正確さ（正確性と精度） 第 1 部：基本原則と定義
• ISO 5725-2:1994 試験方法と結果の精度（正確性と精度） 第 2 部：標準試験方法の繰り返し性と再現性を判断するための基本的な方法
• ISO/TS 18507:2015 表面化学分析生物および環境分析における全反射蛍光X線分析の利用

ISO 20289:2018 発売履歴

• 2018 ISO 20289:2018 表面化学分析 - 水の全反射蛍光X線分析