ASTM C1730-17
重力沈降法を用いたX線モニタリングによるアドバンストセラミックスの粒度分布測定のための標準試験法
- 規格番号
- ASTM C1730-17
- 制定年
- 2017
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
- ASTM C1730-17(2022)
- 最新版
- ASTM C1730-17(2022)
- 範囲
- 5.1&# この試験方法は、1.1 および 1.2 で概説したように、製品仕様、製造管理、開発、および研究のための粒度分布を決定する際に、粉末の供給者と使用者の両方に役立ちます。 5.2&# ユーザーは、この試験方法で使用されるサンプル濃度が一部の当局によって理想的と考えられている濃度ではない可能性があること、およびこの試験方法の範囲がブラウン運動が要因となる可能性がある領域にまで及ぶことに注意する必要があります。 従来の沈降。 この試験法の範囲内では、サンプル濃度もブラウン運動も有意ではないと考えられます。 この試験方法で特に対象となる化学組成の国家標準に追跡可能な標準標準物質は、NIST 3 およびおそらく他の供給者から入手可能です。 5.3 報告された粒子サイズの測定は、実際の粒子の寸法と形状係数、および測定される特定の物理的または化学的特性の関数です。 異なる物理的または化学的パラメータ、または異なる粒径測定範囲で動作する機器のデータを比較する場合には注意が必要です。 サンプルの取得、取り扱い、準備も、報告される粒子サイズの結果に影響を与える可能性があります。 5.4 この試験方法を使用して取得されたデータの供給者とユーザーは、分析される材料の仕様を提供し、その性能予測を可能にするために、これらのデータの適合性に同意する必要があります。 1.1 この試験方法は、高度なセラミック粉末の粒度分布の決定を対象としています。 経験上、この試験方法は、0.1 から 50 μm までのサイズ範囲の炭化ケイ素、窒化ケイ素、酸化ジルコニウムの分析には満足できることがわかっています。 1.1.1 ただし、この試験方法で使用されるサイズと沈降速度の関係は、粒子が層流領域内で沈降すると仮定しています。 レイノルズ数 0.3 以下で粒子が沈降する場合、層流条件下では誤差が無視できる程度に沈降することが一般に認められています。 より大きなレイノルズ数で沈降する粒子の粒度分布解析は、乱流により不正確になる可能性があります。 この試験方法の対象となる一部の材料は、大きな粒子が存在する場合、レイノルズ数が 0.3 を超える水に沈降する可能性があります。 この試験方法のユーザーは、得られた結果の品質を判断するために、存在すると予想される最大の粒子のレイノルズ数を計算する必要があります。 レイノルズ数 (Re) は、次の方程式を使用して計算できます。 存在すると予想される最大粒子の直径 (cm) &#ρ &# &# =&# &#
ASTM C1730-17 規範的参照
- ASTM C1145 アドバンストセラミックス標準用語
- ASTM E1617 粒径特性データを報告するための標準手順
ASTM C1730-17 発売履歴
- 2022 ASTM C1730-17(2022) 重力沈降の X 線モニタリングによるアドバンストセラミックスの粒度分布測定のための標準試験方法
- 2017 ASTM C1730-17 重力沈降法を用いたX線モニタリングによるアドバンストセラミックスの粒度分布測定のための標準試験法
