GB/T 14557-1993
高周波同軸コネクタの電気試験および測定レベルの反射係数 (英語版)

規格番号

GB/T 14557-1993

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1993

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

状態

撤回

最新版

GB/T 14557-1993

範囲

この規格は、一般的な測定方法（エラー識別のない電気ブリッジまたは方向性結合器またはスロット付き測定線路方式、ダブルコネクタ方式）、エラー識別付きの測定方法（電気ブリッジ方式、方向性結合器方式）、標準方式および時間領域反射率計方式を規定しています。 RF同軸コネクタとRF同軸コネクタアダプタの反射係数を測定します。 RF コネクタの反射係数は、標準テスト コネクタをテスト サンプルと嵌合することによって測定されます。 アダプタは両端で標準テスト コネクタと嵌合します。 特定の種類のコネクタの関連仕様では、対応する標準テスト コネクタ (レベル 0 コネクタ) も指定する必要があります。 高精度の伝送線またはケーブルを含む、標準テスト コネクタ ペアの嵌合ペア全体は、最も均一な特性インピーダンスを示す必要があります。 コネクタの製造元が提供する指示に従って、適切な長さのケーブルをケーブル コネクタに接続する必要があります。 公差が近いケーブルを優先する必要があります。 ケーブルの代わりにケーブル シミュレータを使用することもできます。 タイムドメイン反射率測定（TDR）は、測定デバイスの均一性をチェックし、使用される同軸伝送線路部分の不完全性とその特性インピーダンスの検出精度をチェックするために使用する必要があります。 反射係数は周波数の関数として表されます。 測定は通常、周波数領域アプローチを使用して、できれば掃引周波数信号発生器を使用して実行する必要があります。 周波数が1GHz程度であれば、まず時間領域法で測定し、その後周波数領域特性に変換することができます。 このような測定には、テストされたコネクタによって引き起こされる反射をシステム内の他の反射から区別できるという特別な利点があります。 また、周波数領域法で測定した場合、特に周波数が低い場合には、どの部分の反射によるものかを区別することが困難です。 周波数掃引法とは異なるポイント周波数法を採用する場合は、テスト周波数ポイント間で適切に小さな周波数増分を使用する必要があります。 周波数信号発生器 (通常は自動制御される) が非常に小さな周波数増分を生成できる場合を除き、そうでない場合、点周波数法はエラー解決に満足のいく方法ではありません。 周波数の関数として反射係数を測定する一般的なデバイスは、RF ブリッジ、方向性結合器、スロット付き測定ワイヤです。 さまざまな欠陥によって引き起こされる誤差を区別できる特別な装置がない場合、一般的に言えば、反射係数が 0.05 より大きい場合 (測定の不確かさが測定値の 10% を超えてはいけないことを意味します) にのみ、使用する測定装置が使用されます。 これらのデバイスは満足です。 指定された反射係数制限値が 0.05 未満であるコネクタをテストする場合は、通常、誤差の影響を区別し、関連する反射を判断できる測定装置を使用する必要があります。 一部のコンピュータ制御の自動測定システムには、誤差補正モードが追加されており、追加の誤差解決方法を必要とせずに、測定周波数点での反射係数の測定の不正確さを低減できます。 この規格は、RF 同軸ケーブルまたはストリップラインまたはマイクロストリップ伝送と嵌合するための RF 同軸コネクタおよび RF 同軸コネクタ アダプタに適用されます。

GB/T 14557-1993 発売履歴

• 1993 GB/T 14557-1993 高周波同軸コネクタの電気試験および測定レベルの反射係数