KS C IEC 62047-8:2015
半導体デバイス「微小電気機械デバイス」 第8回 フィルムの引張特性を測定するためのストリップ曲げ試験方法
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KS C IEC 62047-8:2015
規格番号
KS C IEC 62047-8:2015
制定年
2015
出版団体
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
状態
入れ替わる
2020-01
に置き換えられる
KS C IEC 62047-8-2020
最新版
KS C IEC 62047-8-2020
KS C IEC 62047-8:2015 発売履歴
2020
KS C IEC 62047-8-2020
半導体デバイス ― 微小電気機械デバイス ― 第8回 薄膜の引張特性測定のためのストリップ曲げ試験方法
2015
KS C IEC 62047-8:2015
半導体デバイス「微小電気機械デバイス」 第8回 フィルムの引張特性を測定するためのストリップ曲げ試験方法
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