JEDEC JEP163-2015
QMLマイクロ回路の老化/寿命テスト条件と主要パラメータの選択

規格番号

JEDEC JEP163-2015

制定年

2015

出版団体

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

最新版

JEDEC JEP163-2015

JEDEC JEP163-2015 発売履歴

• 2015 JEDEC JEP163-2015 QMLマイクロ回路の老化/寿命テスト条件と主要パラメータの選択