ASTM G99-05(2016)
ピンオンディスクアセンブリの摩耗試験の標準試験方法

規格番号

ASTM G99-05(2016)

制定年

2005

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ASTM G99-17

最新版

ASTM G99-23

範囲

4.1 一般に、システムの摩耗量は、適用される負荷、機械の特性、滑り速度、滑り距離、環境、材料特性などのシステム要因の数に依存します。 摩耗試験方法の価値は、材料の組み合わせの相対的な順位を予測することにあります。 ピンオンディスク試験方法は、使用中に経験する可能性のあるすべての条件 (潤滑、荷重、圧力、接触形状、摩耗粉の除去、腐食環境の存在など) を再現しようとするものではないため、テストとは異なる条件下での特定の材料の摩耗率をテストが予測するという保証はありません。 1.1 この試験方法は、ピンオンディスク装置を使用してスライド中の材料の摩耗を測定するための実験室手順を対象としています。 材料は、名目上の非摩耗性条件下でペアでテストされます。 このタイプの装置を使用して摩耗を測定する際に実験で注意を払う主な領域について説明します。 摩擦係数も測定することができる。 1.2&# SI 単位で記載された値は標準とみなされます。 この規格には他の測定単位は含まれません。 1.3&# この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM G99-05(2016) 発売履歴

• 2023 ASTM G99-23 ピンオンディスクまたはボールオンディスクアセンブリを使用した摩耗および摩擦試験の標準試験方法
• 2017 ASTM G99-17 ダイヤルゲージを用いた摩耗試験の標準試験方法
• 2005 ASTM G99-05(2016) ピンオンディスクアセンブリの摩耗試験の標準試験方法
• 2005 ASTM G99-05(2010) ダイヤルゲージを用いた摩耗試験の標準試験方法
• 2005 ASTM G99-05 ダイヤルゲージを用いた摩耗検査の標準試験方法
• 2004 ASTM G99-04a ダイヤルゲージを用いた摩耗検査の標準試験方法
• 2004 ASTM G99-04 ダイヤルゲージを用いた摩耗検査の標準試験方法
• 2003 ASTM G99-03 ディスクデバイスの摩耗テストに標準的なテスト方法を使用する
• 1995 ASTM G99-95a(2000)e1 ダイヤルゲージを用いた摩耗試験の標準試験方法