GB/T 12636-1990
マイクロ波誘電体基板の複素誘電率ストリップライン試験方法 (英語版)

規格番号

GB/T 12636-1990

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1990

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 12636-1990

範囲

この規格は、マイクロ波誘電体基板の複素誘電率のストリップラインのテスト方法を指定します。 この規格は、マイクロ波周波数でのさまざまな基板 (プラスチック、複合材料、セラミック、ケイ酸塩、その他の単結晶材料など) の複素誘電率をテストするのに適しています。 試験周波数範囲：f=1～20GHz 試験誘電率範囲：ε'=2～25 損失正接試験範囲：tanδe=5×10-4～1×10-2

GB/T 12636-1990 発売履歴

• 1990 GB/T 12636-1990 マイクロ波誘電体基板の複素誘電率ストリップライン試験方法