DIN ISO 14999-4:2016
光学およびフォトニクス 光学部品および光学システムの干渉測定 パート 4: ISO 10110 (ISO 14999-4-2015) で指定された公差の説明と評価
- 規格番号
- DIN ISO 14999-4:2016
- 制定年
- 2016
- 出版団体
- German Institute for Standardization
- 状態
- に置き換えられる
- DIN ISO 14999-4:2016-04
- 最新版
- DIN ISO 14999-4 Berichtigung 1:2022-05
- 交換する
- DIN ISO 14999-4:2008 DIN ISO 14999-4:2015
DIN ISO 14999-4:2016 規範的参照
- DIN EN ISO 25178-2:2012 幾何製品仕様 (GPS)、表面テクスチャ: 表面、パート 2: 用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ (ISO 25178-2-2012)、ドイツ語版 EN ISO 25178-2-2012
- DIN EN ISO 25178-3:2012 技術製品の幾何学的仕様 (GPS)、表面テクスチャ: 表面、パート 3: オペレーター仕様 (ISO 25178-3-2012)、ドイツ語版 EN ISO 25178-3-2012
- DIN EN ISO 25178-601:2011 技術製品の幾何学的仕様 (GPS)、表面構造: 平面、パート 601: 接触 (スタイラス) 機器の公称特性 (ISO 25178-601-2010)、ドイツ語版 EN ISO 25178-601-2010
- DIN EN ISO 25178-602:2011 技術製品の幾何学的仕様 (GPS) - 表面テクスチャ: フラット パート 602: 非接触 (共焦点カラー プローブ) 機器の公称特性 (ISO 25178-602-2010)、ドイツ語版 EN ISO 25178-602-2010
- DIN EN ISO 25178-603:2014 技術製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面テクスチャ面パート 603 非接触 (位相シフト干渉計による顕微鏡検査) 機器の公称特性 (ISO 25178-603-2013) ドイツ語版 EN ISO 25178-603-2013
- DIN EN ISO 25178-604:2013 技術製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面テクスチャ面パート 604 非接触公称特性評価 (コヒーレンス走査干渉計) 機器 (ISO 25178-604-2013) ドイツ語版 EN ISO 25178-604-2013
- DIN EN ISO 25178-605:2014 幾何学的製品仕様 (GPS)、表面構造: 平面、パート 605: 非接触 (コヒーレンス走査干渉計) 機器の公称特性 (ISO 25178-605-2014)、ドイツ語版 EN ISO 25178-605 -2014
- DIN EN ISO 25178-6:2010 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面性状: 表面 パート 6: 表面性状の測定方法の分類 (ISO 25178-6-2010) ドイツ語版 EN ISO 25178-6-2010
- DIN EN ISO 25178-701:2011 製品形状の技術仕様 (GPS)、表面構造: 平面、パート 701: 接触 (スタイラス) 機器の校正および測定の規格 (ISO 25178-701-2010)、ドイツ語版 EN ISO 25178-701-2010
- DIN EN ISO 25178-70:2014 幾何製品仕様 (GPS)、表面構造: 平面、パート 70: 材料測定 (ISO 25178-70-2014)、ドイツ語版 EN ISO 25178-70-2014
- DIN EN ISO 25178-71:2013 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面テクスチャ: フラット パート 71: ソフトウェア測定の標準 (ISO 25178-71-2012) ドイツ語版 EN ISO 25178-71-2012
- DIN EN ISO 4287:2010 製品の幾何学的数量に関する技術仕様 表面性状: プロファイル法 用語、定義および表面性状パラメータ (ISO 4287: 1997 + Corrigendum 1: 1998 + Corrigendum 2: 2005 + Modification 1: 2009); ドイツ語版 EN ISO 4287 : 1998 + AC: 2008 + A1: 2009
- DIN ISO 10110-14:2008 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムのパターン作成 パート 14: 波面変形許容値 (ISO 10110-14-2007) 英語版 DIN ISO 10110-14-2008
- DIN ISO 10110-5:2016 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムのパターン作成 パート 5: 表面形状公差 (ISO 10110-5-2015)
- ISO 10110-14:2007 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよびシステムの図面の準備 パート 14: 波面変形許容差
- ISO 10110-5:2015 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの図面の準備 パート 5: 表面形状公差
- ISO 25178-2:2012 幾何製品仕様 (GPS)、表面テクスチャ: 表面、パート 2: 用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ
- ISO 25178-3:2012 幾何学的製品仕様 (GPS)、表面テクスチャ: 表面、パート 3: オペレーター仕様
- ISO 25178-6:2010 製品の幾何学的仕様（GPS） 表面性状：表面 第6部：表面性状測定方法の分類
- ISO 25178-70:2014 幾何製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 表面 パート 70: 材料測定
- ISO 4287:1997 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面構造: プロファイル法表面構造の用語、定義、パラメーター (2 か国語による)
- ISO/TR 14999-1:2005 光学とフォトニクス 光学コンポーネントと光学システムの干渉測定 パート 1: 用語、定義、および基本的な関係
- ISO/TR 14999-2:2005 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよび光学システムの干渉測定 パート 2: 測定および評価技術
DIN ISO 14999-4:2016 発売履歴
- 1970 DIN ISO 14999-4 Berichtigung 1:2022-05
- 2020 DIN ISO 14999-4 Beiblatt 1:2020-04 光学とフォトニクス - 光学素子と光学システムの干渉法 - パート 4: ISO 10110 で指定された公差の解釈と評価
- 2016 DIN ISO 14999-4:2016-04 光学およびフォトニクス 光学部品および光学システムの干渉法 パート 4: ISO 10110 (ISO 14999-4:2015) で指定された公差の解釈と評価
- 2016 DIN ISO 14999-4:2016 光学およびフォトニクス 光学部品および光学システムの干渉測定 パート 4: ISO 10110 (ISO 14999-4-2015) で指定された公差の説明と評価
- 1970 DIN ISO 14999-4 E:2015-06 光学およびフォトニクス - 光学素子および光学システムの干渉測定 - パート 4: ISO 10110 で指定された公差の解釈と評価
- 2008 DIN ISO 14999-4:2008 光学およびフォトニクス 光学コンポーネントおよび光学システムの干渉測定 パート 4: ISO 10110 (ISO 14999-4-2007) で指定された公差の説明と評価 英語版 DIN ISO 14999-4-2008
- 0000 DIN ISO 10110-14:2004
- 0000 DIN ISO 10110-5:2000
