GJB 8149-2013
光学素子の超高反射率測定法 リングダウン法 (英語版)

規格番号

GJB 8149-2013

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2013

出版団体

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department

最新版

GJB 8149-2013

範囲

この規格は、キャビティリングダウン法によるレーザー光学部品の超高反射率の測定方法を規定したもので、反射率99.9%を超える平面光学素子や球面光学素子の超高反射率測定に適用されます。 動作角が 10° 未満、曲率半径が 10m を超える場合、他の光学コンポーネントの高反射率の測定を参考として使用できます。

GJB 8149-2013 発売履歴

• 2013 GJB 8149-2013 光学素子の超高反射率測定法 リングダウン法