General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
最新版
GB/T 30653-2014
範囲
この規格は、高分解能 X 線回折装置による III 族窒化物エピタキシャル ウェーハの結晶品質を試験する方法を規定しています。
この規格は、窒化物 (Ga、In、Al) N 単層または多層の不均一エピタキシャル ウェーハの結晶化品質試験に適用されます。
他の異種エピタキシャルウェーハの結晶品質のテストでもこの規格を参照できます。