KS M 0017-2010
蛍光X線分析の一般原理

規格番号

KS M 0017-2010

制定年

2010

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

入れ替わる 2020-01

に置き換えられる

KS M 0017-2020

最新版

KS M 0017-2020

交換する

KS M 0017-2005

範囲

この規格は、X線蛍光分光光度分析装置を用いて蛍光X線を測定し、

KS M 0017-2010 発売履歴

• 2020 KS M 0017-2020 蛍光X線分光分析の通則
• 2010 KS M 0017-2010 蛍光X線分析の一般原理
• 1995 KS M 0017-1995 蛍光X線分光分析の通則