KS D ISO 4519:2009
金属皮膜 皮膜厚さの測定 表面測光法

規格番号

KS D ISO 4519:2009

制定年

2009

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

入れ替わる 2020-01

に置き換えられる

KS D ISO 4519-2020

最新版

KS D ISO 4519-2020

交換する

KS D ISO 4519:1999

範囲

この規格は、金属メッキ層の特性検査のためのサンプリング方法について設定した。 この方法は引数です

KS D ISO 4519:2009 発売履歴

• 2020 KS D ISO 4519-2020 電着金属塗装及びその仕上げ－属性別抜き取り検査手順
• 2009 KS D ISO 4519:2009 金属皮膜 皮膜厚さの測定 表面測光法
• 0000 KS D ISO 4519:1999