KS D ISO 2361:2004
磁性および非磁性基板上へのニッケルの電気めっき、膜厚の測定、磁気法

規格番号

KS D ISO 2361:2004

制定年

2004

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

撤回

に置き換えられる

KS D ISO 2361:2015

最新版

KS D ISO 2361-2020

範囲

この規格は、磁性および非磁性素地の上に電解析出したニッケルめっき厚さを非破壊測定するためのものです。

KS D ISO 2361:2004 発売履歴

• 2020 KS D ISO 2361-2020 磁性および非磁性基材上のニッケル電着皮膜－皮膜厚さの測定－磁気法
• 2015 KS D ISO 2361:2015 磁性および非磁性基板上のニッケル電気めっきの膜厚を測定するための磁気的方法
• 2004 KS D ISO 2361:2004 磁性および非磁性基板上へのニッケルの電気めっき、膜厚の測定、磁気法