KS B ISO 11254-1:2003
レーザーおよびレーザー関連機器 光表面のレーザー損傷閾値の決定 1 対 1 テスト

規格番号

KS B ISO 11254-1:2003

制定年

2003

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

入れ替わる 2013-12

に置き換えられる

KS B ISO 11254-1:2013

最新版

KS B ISO 11254-1-2020

範囲

この仕様は、シングルショットレーザー放射誘導に対する光素子表面の損傷しきい値（LIDT）を決定します。

KS B ISO 11254-1:2003 発売履歴

• 2020 KS B ISO 11254-1-2020 レーザーとレーザー ― 関連機器 ― レーザーの決定 ― 光学面の誘発損傷閾値 ― パート 1: 1-on-1 テスト
• 2015 KS B ISO 11254-1:2015 レーザーおよびレーザー関連機器の光表面のレーザー損傷閾値の決定 1 対 1 テスト
• 2013 KS B ISO 11254-1:2013 レーザーおよびレーザー関連機器 光表面のレーザー損傷閾値の決定 1 対 1 テスト
• 2003 KS B ISO 11254-1:2003 レーザーおよびレーザー関連機器 光表面のレーザー損傷閾値の決定 1 対 1 テスト