SJ/T 11278.4.2-2014
電子機器用バリスタ 第4部 チップバリスタの仕様 (英語版)
- 規格番号
- SJ/T 11278.4.2-2014
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2014
- 出版団体
- Professional Standard - Electron
- 最新版
- SJ/T 11278.4.2-2014
- 範囲
- この仕様は、チップバリスタの定格、優先値、特性および品質評価手順を規定し、関連する用語、試験および測定方法を補足します。 この仕様は、半田付け部分がメタライズされており、混成集積回路やプリント基板の基板に直接実装できる電子機器用のチップバリスタに適用されます。 本仕様書で規定するテストの重大度や要件を詳細仕様書に引用する場合には、同等以上の性能レベルを持たせる必要があり、性能レベルの低下は認められません。
SJ/T 11278.4.2-2014 規範的参照
- GB/T 10193-1997 電子機器用バリスタ 第1部 一般仕様書
- GB/T 17626.2-1998 電磁適合性試験および測定技術 静電気放電イミュニティ試験
- GB/T 2421-1999 電気・電子製品の環境試験 第 1 部 一般原則
- GB/T 2423.29-1999 電気・電子製品の環境試験 第2部：試験方法 試験U：端子および実装部品全体の強度
- GB/T 2423.3-2006 電気・電子製品の環境試験 パート 2: 試験方法 試験室: 恒湿恒温試験
- GB/T 2423.5-1995 電気および電子製品の環境試験パート 2、試験方法、試験 Ea およびガイドライン、影響
- GB/T 2423.6-1995 電気・電子製品の環境試験 Part 2; 試験方法 Test Eb とガイドライン; 衝突
- SJ/T 11167 敏感なコンポーネントとセンサーモデルの命名方法
- SJ/T 11200-1999 環境試験パート 2: 試験方法 試験 Td: 表面実装部品のはんだ付け性、メタライズ層の耐食性、溶接熱
SJ/T 11278.4.2-2014 発売履歴
- 2014 SJ/T 11278.4.2-2014 電子機器用バリスタ 第4部 チップバリスタの仕様
