JIS K 0152:2014
表面化学分析 X 線光電子分光分析 強度スケールの再現性と一貫性

規格番号

JIS K 0152:2014

制定年

2014

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS K 0152:2014

JIS K 0152:2014 規範的参照

• JIS K 0145 表面化学分析 X線光電子分光装置 エネルギースケールの校正

JIS K 0152:2014 発売履歴

• 2014 JIS K 0152:2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析 強度スケールの再現性と一貫性