GB/T 30703-2014
マイクロビーム解析ガイドライン 後方散乱電子回折方位解析手法 (英語版)

規格番号
GB/T 30703-2014
言語
中国語版, 英語で利用可能
制定年
2014
出版団体
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
最新版
GB/T 30703-2014
範囲
この規格は、電子後方散乱回折 (EBSD) 技術を使用した結晶方位測定のガイドラインを示しており、測定データの信頼性と再現性が高くなります。 この規格は、サンプルの準備、機器の構成、校正、およびデータ取得の手順を確立します。 一般原理。 この規格は、バルク結晶サンプルの粒方位の EBSD 分析に適用されます。

GB/T 30703-2014 規範的参照

  • GB/T 27025-2008 試験所および校正機関の能力に関する一般要件
  • ISO/IEC Guide 98-3 測定の不確かさの表現に関するガイドライン (GUM:1995) 任意の数の出力量に拡張

GB/T 30703-2014 発売履歴

  • 2014 GB/T 30703-2014 マイクロビーム解析ガイドライン 後方散乱電子回折方位解析手法
マイクロビーム解析ガイドライン 後方散乱電子回折方位解析手法



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