GB/T 30703-2014
マイクロビーム解析ガイドライン 後方散乱電子回折方位解析手法 (英語版)

規格番号

GB/T 30703-2014

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2014

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 30703-2014

範囲

この規格は、電子後方散乱回折 (EBSD) 技術を使用した結晶方位測定のガイドラインを示しており、測定データの信頼性と再現性が高くなります。 この規格は、サンプルの準備、機器の構成、校正、およびデータ取得の手順を確立します。 一般原理。 この規格は、バルク結晶サンプルの粒方位の EBSD 分析に適用されます。

GB/T 30703-2014 規範的参照

• GB/T 27025-2008 試験所および校正機関の能力に関する一般要件
• ISO/IEC Guide 98-3 測定の不確かさの表現に関するガイドライン (GUM:1995) 任意の数の出力量に拡張

GB/T 30703-2014 発売履歴

• 2014 GB/T 30703-2014 マイクロビーム解析ガイドライン 後方散乱電子回折方位解析手法