KS C 2150-2008
高周波帯域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率及び誘電損失の測定方法

規格番号

KS C 2150-2008

制定年

2008

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

KS C 2150-2008(2018)

最新版

KS C 2150-2023

範囲

この規格は、高周波帯域（500 MHz〜10 GHz）における誘電体薄膜の誘電率と誘電損失の

KS C 2150-2008 発売履歴

• 2023 KS C 2150-2023 誘電体薄膜の高周波領域（500MHz〜10GHz）における誘電率および誘電損失の測定方法
• 0000 KS C 2150-2008(2018)
• 2008 KS C 2150-2008 高周波帯域（500MHz～10GHz）における誘電体膜の誘電率及び誘電損失の測定方法