DS/EN 62047-18:2013
半導体デバイス 微小電気機械デバイス 第18回 薄膜材料の曲げ試験方法

規格番号
DS/EN 62047-18:2013
制定年
2013
出版団体
Danish Standards Foundation
最新版
DS/EN 62047-18:2013
範囲
IEC 62047-18:2013 specifies the method for bend testing of thin film materials with a length and width under 1 mm and a thickness in the range between 0,1 micrometre and 10 micrometre. This International Standard specifies the bend testing and test piece

DS/EN 62047-18:2013 発売履歴

  • 2013 DS/EN 62047-18:2013 半導体デバイス 微小電気機械デバイス 第18回 薄膜材料の曲げ試験方法



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