KS X ISO 6342:2007
顕微鏡写真、ウィンドウカード、肥厚部の厚さの測定方法

規格番号
KS X ISO 6342:2007
制定年
2007
出版団体
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
状態
に置き換えられる
KS X ISO 6342-2007(2017)
最新版
KS X ISO 6342-2022
交換する
KS X ISO 6342:2004
範囲
この仕様は、製造および検査の目的のためにギャップカードの強化領域の厚さを測定します。

KS X ISO 6342:2007 発売履歴

  • 2022 KS X ISO 6342-2022 顕微鏡写真-アパーチャカード-堆積部の厚さの測定方法
  • 0000 KS X ISO 6342-2007(2017)
  • 2007 KS X ISO 6342:2007 顕微鏡写真、ウィンドウカード、肥厚部の厚さの測定方法
  • 0000 KS X ISO 6342:2004

KS X ISO 6342:2007 顕微鏡写真、ウィンドウカード、肥厚部の厚さの測定方法 は BS PD CEN/TS 16675:2018 廃棄物の特性評価 廃棄物の全体的な状態を判断するために使用される試験方法 に変更されます。




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