KS C IEC 60749-32:2006
半導体デバイス 機械的および気候試験方法 パート 32: プラスチック密閉デバイスの可燃性 (外部誘導)

規格番号

KS C IEC 60749-32:2006

制定年

2006

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

KS C IEC 60749-32-2006(2016)

最新版

KS C IEC 60749-32:2021

範囲

この仕様は半導体デバイス（個々のデバイスと直接回路）に適用可能です。

KS C IEC 60749-32:2006 発売履歴

• 2021 KS C IEC 60749-32:2021 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 32: プラスチックパッケージデバイスの可燃性 (外部誘導)
• 0000 KS C IEC 60749-32-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-32:2006 半導体デバイス 機械的および気候試験方法 パート 32: プラスチック密閉デバイスの可燃性 (外部誘導)