KS C IEC 61745:2001
光ファイバー幾何学テストアセンブリの端面グラフィカル解析結果

規格番号

KS C IEC 61745:2001

制定年

2001

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

KS C IEC 61745-2001(2016)

最新版

KS C IEC 61745-2021

範囲

a) この規格は近接場(near-field)または濃度尺度(grey-scale)分析で

KS C IEC 61745:2001 発売履歴

• 2021 KS C IEC 61745-2021 光ファイバ形状テストセットの校正のための端面画像解析手順光ファイバ形状テストセットの校正
• 0000 KS C IEC 61745-2001(2016)
• 2001 KS C IEC 61745:2001 光ファイバー幾何学テストアセンブリの端面グラフィカル解析結果